CTTおよびIRTにおける測定の精度

テストは，受験者の何らかの特性値を推定するために行われますが，そこには誤差がつきもの。



CTTにおける測定の精度

テスト（項目のセット）と受験者集団を固定した場合に得られる単一の指標

・信頼性（＝内的一貫性）の推定値＝α係数　一つのテストに一つ算出される。

　短所：受験者の能力値のレベルに応じた測定の精度は求められない。

・測定の標準誤差Standard Error of Measurement(SEM)　当該テストを受験した一つの集団に一つ算出される。

　異なる受験者集団についてSEMを求めると，異なる値（標本依存性）。

IRTにおける測定の精度

・項目情報関数（item information function:IIF）　項目ごとに算出される。

　能力値θの関数＝受験者の能力値のレベルに応じて値が変わる

　→ある項目が能力値θのどのレベル（あるいは範囲）でより精度の高い推定が行えるか議論可能。

・テスト情報関数（test information function:TIF)　テストについてIIFと同様に情報量を算出。

IIFやTIFの利用→柔軟なテスト構成を可能に。

e.g., θの低いレベルで測定精度の高いテスト（スクリーニング用）や，高いレベルで測定精度の高いテスト（選抜用）の作成が可能。

受験者集団に依存しない（＝標本依存性を克服）（←等化を行うことによる）


#2015年9月24日追記
CTTにおけるSEM⇒テスト全体の誤差を考える。成績上位者でも下位者でも，誤差の値は同一という考え方。

IRT⇒回答者ひとりひとりに誤差を考える。推定された能力に応じた誤差（能力が異なると誤差も異なる）という考え方。

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